[发明专利]复合绝缘子内部缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911380765.1 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111024753A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 黄振;杨翠茹;吕鸿;彭向阳;王锐 | 申请（专利权）人： | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 夏菁 |
| 地址： | 510080 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种复合绝缘子内部缺陷检测方法，包括步骤，获取复合绝缘子上多个预设位置点的一次温升值；当多个预设位置点的一次温升值中至少有一个满足预设异常温升值时，对复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；获取复合绝缘子上多个预设位置点的二次温升值；根据多个预设位置点的二次温升值之间的关系确定复合绝缘子的发热位置；获取复合绝缘子的发热位置的一次温升值；去除复合绝缘子的发热位置的表层至满足预设深度；对复合绝缘子施加满足预设时间的交流运行电压；获取复合绝缘子的发热位置的二次温升值；根据发热位置的二次温升值与发热位置的一次温升值之间的关系，输出检测结果。简便、高效且准确的实现复合绝缘子内部缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 复合 绝缘子 内部 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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