[发明专利]一种高均匀性导电硅靶材制备工艺在审

专利信息
申请号: 201911380867.3 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111074191A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 蔺裕平;韩刚库 申请(专利权)人: 梭莱镀膜工业(江阴)有限公司
主分类号: C23C4/04 分类号: C23C4/04;C23C4/134;C23C4/137
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 王凯
地址: 214437 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明一种高均匀性导电硅靶材制备工艺,步骤一:备料:按照硼浓度含量为20~200ppm的配比放入高纯硅粉和硼粉;步骤二:研磨:使用机械球磨机对步骤一种的混合料进行球磨;步骤三:喷雾造粒:将步骤二研磨后的粒度为1~10um的粉末导入喷雾造粒干燥机进行造粒,获得粒度为40~160um的球形磨粉;步骤四:真空喷涂:将步骤三获取的球形磨粉在低真空环境下利用等离子喷涂方式喷涂在靶材基材表面。本发明一种高均匀性导电硅靶材制备工艺,其有效的提高了靶材的质量,且降低了成本。
搜索关键词: 一种 均匀 导电 硅靶材 制备 工艺
【主权项】:
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