[发明专利]一种深度测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201911385285.4 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111025319B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 王兆民 | 申请（专利权）人： | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/36 | 分类号： | G01S17/36;G01S7/481;G01S17/89 |
| 代理公司： | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人： | 田志立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种深度测量装置，包括发射单元、接收单元、以及控制与处理电路；其中，发射单元包括光源和光学元件，光源发射时序上振幅被调制的光束，光束经过光学元件后投射到目标区域；接收单元包括有TOF图像传感器和变焦透镜，TOF图像传感器采集目标区域反射回的光束并形成电信号，变焦透镜将反射光束投射到TOF图像传感器中；控制与处理电路接收电信号并计算出反射光束的强度信息，根据强度信息及预定义的阈值范围调整变焦透镜的焦距，进而调整TOF图像传感器采集反射光束的视场角。通过调整变焦透镜的焦距进而调整传感器接收反射光束的光强度，保证传感器在不同情况均可接收到有效的响应信号，提高了装置的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 深度 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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