[发明专利]一种低应力散热层半导体衬底及其制备方法和应用在审
申请号: | 201911397643.3 | 申请日: | 2019-12-30 |
公开(公告)号: | CN111005009A | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 魏志鹏;郭德双;唐吉龙;王华涛;徐英添;范杰;郝永芹;王新伟;林逢源;王晓华;马晓辉 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | C23C16/505 | 分类号: | C23C16/505;C23C16/26;C23C16/02;C23C16/27;C23C16/511;H01L33/62;H01L33/64 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 赵晓琳 |
地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明涉及新型衬底材料技术领域,提供了一种低应力散热层半导体衬底及其制备方法和应用。本发明提供的低应力散热层半导体衬底由上至下依次为半导体衬底层、类金刚石缓冲层和金刚石薄膜层。本发明在半导体衬底层和金刚石薄膜层中间添加类金刚石缓冲层,类金刚石缓冲层和金刚石薄膜层构成低应力散热层,利用类金刚石缓冲层的缓冲作用,解决了半导体衬底和金刚石薄膜层之间由于不匹配的热膨胀系数引起的应力问题,类金刚石缓冲层有效降低了与半导体衬底间的应力;而且金刚石导电性能较差,本发明通过添加具有导电特性的类金刚石缓冲层,有效改善了金刚石导电性差导致的电极制备难度大的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 应力 散热 半导体 衬底 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的