[发明专利]基于光纤光栅的新型光回损校准件在审

专利信息
申请号: 201911397753.X 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN111103123A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 胡婉君;李文兴;张辉;李建征;吕东瑞;王卓念 申请(专利权)人: 广电计量检测(北京)有限公司;广州广电计量检测股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈伟斌
地址: 100176 北京市大兴区北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及光纤光栅的技术领域,更具体地,涉及基于光纤光栅的新型光回损校准件。基于光纤光栅的新型光回损校准件,其中,包括依次连接的FC/APC接头、光反射装置和光端接装置。本发明适用于校准一般光回损测试仪以及基于光时域反射仪原理的免缠绕光回损测试仪。本发明结构紧凑,使用轻便。光栅长度在10mm以下,为避免涉效应,光栅距离两端面的距离应在10mm或以上。校准件末端为微型遮光筒封装。故校准件总长不超过40mm,微型结构,使用方便。本发明稳定性高。本校准件为全光纤结构,通过折射率调制在内部刻写光栅,并使用折射率匹配膏实现末端纤芯与遮光筒之间的耦合。整个校准件并未破坏光纤自身的结构而产生倏逝能量场,稳定性高,重复性好。
搜索关键词: 基于 光纤 光栅 新型 光回损 校准
【主权项】:
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