[发明专利]三维半导体存储器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201911399515.2 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111435664A 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: 李亥濬;安圣洙;金荷那 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 杨姗
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种三维半导体存储器件。该存储器件包括:衬底,具有单元阵列区域以及与单元阵列区域相邻的连接区域,连接区域包括第一焊盘区域和第二焊盘区域;电极结构,包括堆叠在衬底上的电极,电极结构包括形成上部阶梯结构的上部;第一虚设结构,与电极结构的上部横向间隔开,并且设置在第一焊盘区域上;以及第二虚设结构,与电极结构的上部横向间隔开,并设置在第二焊盘区域上。第一虚设结构和第二虚设结构中的每一个包括虚设阶梯结构,并且第一虚设结构位于比第二虚设结构更高的水平面处。
搜索关键词: 三维 半导体 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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