[发明专利]异常参数检测方法及装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 201911404370.0 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111143169A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 谭天;陈忠良;李小龙 | 申请（专利权）人： | 杭州迪普科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/30 | 分类号： | G06F11/30;G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 王茹 |
| 地址： | 310051 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供一种异常参数检测方法及装置、电子设备、存储介质；该方法可以根据历史数据确定目标对象在预设时间段或时间点的参数值的正常取值范围，并根据该正常取值范围以及目标对象在当前周期的预设时间段或预设时间点对应的参数值判断目标对象是否存在异常。进一步的，本申请还可以根据预设时间段或预设时间点之前的历史时间段或历史时间点对应的历史偏差值确定另一正常取值范围，并根据两个正常取值范围中的任一范围确定目标对象在在当前周期的预设时间段或预设时间点是否存在异常。 | ||
| 搜索关键词： | 异常 参数 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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