[发明专利]COB双站测试方法及装置在审
| 申请号： | 201911407154.1 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN110987831A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 段雄斌;雄亚俊;席松涛 | 申请（专利权）人： | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 | 代理人： | 胡清方;彭友华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种COB双站测试方法及装置，其中，测试方法包括：将COB材料移动到第一检测位置，COB材料的一部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡部分被点亮，测试COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，将COB材料移动到第二检测位置，COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡的部分被点亮，测试所述COB材料未被遮挡的区域。本发明由于采用了双站测试，第一次测试COB材料的一部分区域，第二次测试COB材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个COB材料的测试，具有不需要平凡清理玻璃片、不会出现误判和不会影响COB材料的筛选。 | ||
| 搜索关键词： | cob 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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