[发明专利]常温高频腔进腔功率测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911408866.5 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN111025012B 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 王云;刘华昌;戴建枰;李阿红;吴小磊;李波;陈强;樊梦旭;瞿培华;谢哲新;慕振成 申请(专利权)人: 散裂中子源科学中心
主分类号: G01R21/00 分类号: G01R21/00
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 谢静娜
地址: 523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种常温高频腔进腔功率测量装置及方法,其装置包括依次连接的功率源、环形器、定向耦合器、功率耦合器和高频腔,功率源、环形器之间、定向耦合器和功率耦合器之间通过波导传输线依次连接;环形器上设有吸收负载,高频腔设有耦合环,定向耦合器上设有测反射功率计和测前向功率计。其方法是先通过测量高频腔的场幅信号、相位角信号以及耦合度,计算出高频腔的入口反射系数;然后测量定向耦合器的反射功率和前向功率,并利用入口反射系数的幅度值计算出从定向耦合器至高频腔入口的功率衰减系数;最后利用功衰减系数计算高频腔入口处的前向功率、反射功率以及实际进腔功率。本发明可在高功率下精确测量高频腔的入腔功率。
搜索关键词: 常温 高频 腔进腔 功率 测量 装置 方法
【主权项】:
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