[发明专利]应用于集成电路的测试方法、测试装置及测试系统在审
| 申请号： | 201911410294.4 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111159972A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 王东 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 518045 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种应用于集成电路的测试方法、测试装置及测试系统，应用于集成电路的测试方法包括：获取针对测试对象配置的硬件驱动代码、测试用例代码以及镜像文件(S201)，一个所述测试用例代码对应所述测试对象中一个功能模块的至少一功能特性，所述测试对象包括芯片、所述芯片对应的设计原型中至少其一；根据所述镜像文件，启动预先构建的镜像容器对所述硬件驱动代码、所述测试用例代码进行编译生成测试镜像(S202)；在所述测试对象上加载所述测试镜像，以对所述功能模块的至少一功能特性进行测试(S203)，从而降低了针对测试对象的测试难度，有效地应用到集成电路领域实现对测试对象的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 集成电路 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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