[发明专利]基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法有效

专利信息
申请号: 201911410910.6 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN111122585B 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 张丹丹;周桐宇;任姣姣;顾健;李丽娟;张霁旸;熊伟华;牟达;钟一帆 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/3586;G01N21/3563
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 杜森垚
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法,解决在太赫兹波段检测时微观缺陷无法被精确的识别,以及在针对微观缺陷检测时没有准确的微观缺陷模型的时序特征波形对照标准的问题。包括以下步骤:获取实际检测的太赫兹光源并对太赫兹光源进行信号处理;对于色散介质及非色散介质光学参数的优化拟合;建立多参数微观缺陷仿真模型样本库,对微观缺陷进行电磁场仿真,构建多参数特征波形;太赫兹波段检测微观缺陷仿真模型进行反演,判定微观缺陷的存在情况,进而完成标定微观缺陷的微观厚度。
搜索关键词: 基于 fdtd 材料 微观 缺陷 赫兹 无损 检测 仿真 方法
【主权项】:
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