[发明专利]软件缺陷的信息展示方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 201911416647.1 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN111240963A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 何颖 申请(专利权)人: 瑞庭网络技术(上海)有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例提供了一种软件缺陷的信息展示方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:获取目标软件缺陷的更改记录,更改记录包括目标软件缺陷的修改时间点和修改内容;根据修改时间点和修改内容,确定软件缺陷所经历的修改阶段,并确定修改阶段对应的操作时长,操作时长为一个修改阶段所经历的时间长度;根据修改阶段、操作时长和修改内容,生成并展示目标软件缺陷修复过程中在时间轴上的记录信息。本发明实施例实现了在时间轴中统一记录软件缺陷所经历的各个修改阶段并保留了各个修改阶段的数据,从软件缺陷的修复过程中进行分析,可以直观的显示软件缺陷各个修改阶段的情况,有助于软件缺陷的快速解决,提高软件缺陷的解决效率。
搜索关键词: 软件 缺陷 信息 展示 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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