[发明专利]一种误码测试方法、装置，存储介质及电子装置在审
| 申请号： | 201911417548.5 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN113132172A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 张理维 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04L1/00 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种误码测试方法、装置，存储介质及电子装置，其中误码测试方法包括：在误码检测器件中生成模拟码流，将模拟码流中的有效载荷中的数据用PRBS码流填充，根据所述光电器件工作的业务类型，将所述业务类型对应的特征比特位插入所述模拟码流中的对应位置，对所述模拟码流进行误码检测获得误码信息。通过本发明，解决了验证光电器件特性时需同时使用误码仪和业务表进行测试，使得仪表资源投入大，处理复杂，测试周期长，提高了误码检测的效率，减小了检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
暂无信息
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