[发明专利]人工智能芯片测试方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201911420462.8 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111158967B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 郭子瑜 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 胡艾青;刘芳 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了人工智能芯片测试方法、装置、设备及存储介质,涉及人工智能领域。具体实现方案为:目标人工智能芯片具有多个相同的运算单元,该方法包括:获取目标人工智能芯片的规模信息;根据规模信息判断目标人工智能芯片是否满足运算单元阵列级别的测试条件;若确定满足运算单元阵列级别的测试条件,则将所有运算单元划分为多个相同的运算单元阵列,对各运算单元阵列分别进行DFT测试;若确定不满足运算单元阵列级别的测试条件,则对各运算单元分别进行DFT测试。降低了测试成本,大大减小了测试时间,提高了测试效率。并且加载每个运算单元或运算单元阵列的DFT所需的存储器计算存储资源也会大大减小,大大降低了测试功耗。 | ||
搜索关键词: | 人工智能 芯片 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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