[发明专利]一种散射测量装置及散射测量方法有效
申请号: | 201911421040.2 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN113124751B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 周钰颖 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种散射测量装置及散射测量方法。散射测量装置包括光源、光束传输模块、镜头、相位补偿模块、运动台、焦面测量模块及散射测量模块;光源提供照明光束;光束传输模块将照明光束分为第一光束和第二光束;运动台承载待测物体,带动待测物体在第一平面内扫描;相位补偿模块对第二光束进行相位调制,并形成第三光束;光束传输模块接收信号光束并分束;焦面测量模块接收第三光束和第一信号光束,并计算待测物体的焦面偏离程度;散射测量模块接收第二信号光束,并计算待测物体的关键尺寸或套刻误差。本发明实施例的技术方案,可以在不引入其他照明的条件下实现焦面测量,而且无需垂向扫描,可以提高测量效率,提高产量。 | ||
搜索关键词: | 一种 散射 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
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