[发明专利]一种仪控卡件的可靠性检测方法在审
申请号: | 201911422401.5 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111090037A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 康澄杰;秦凤;钱玉刚;朱桂霞;周田蜜;李艳良 | 申请(专利权)人: | 中核武汉核电运行技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 李东斌 |
地址: | 430223 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及可靠性检测试验技术领域,具体公开了一种仪控卡件的可靠性检测方法。该方法具体包括如下步骤:1、根据待检测卡件的功能,搭建仿真模型;2、对待检测卡件进行拷机测试;3、输入与拷机测试相同的工况,并对待检测卡件进行仿真分析;4、根据仿真结果构建案例库,并通过拷机波形与特征案例波形进行对比进行故障诊断,确定待检测卡件拷机状态和故障位置,完成卡件可靠性检测。该方法能够实现对卡件的功能完整性检测、卡件的故障定位与诊断分析,做到故障前实施预防性决策、故障中实现快速诊断、故障后吸取优化经验,最终服务于关键设备的可靠运行,降低卡件的维护、购置费用和核电关键设备的损坏风险的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 仪控卡件 可靠性 检测 方法 | ||
【主权项】:
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