[发明专利]一种适用于深空探测的激光样品室有效
申请号: | 201911425107.X | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN111077108B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 王银之;王非;师文贝;杨列坤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39;G01N21/01 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴梦圆 |
地址: | 100101 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种适用于深空探测的激光样品室,该激光样品室包括样品室底座和样品室顶盖,其中:样品室底座为底端密封且顶端开口的空心圆柱,空心圆柱的内部空腔用于放置样品盘;样品室顶盖主体为顶端密封且底端开口的空心圆柱。本发明利用位于样品室顶盖底端的螺口与位于样品室空腔底座内表面的螺纹实现样品室顶盖与样品室底座的螺接初级密封,简化了操作流程,降低了安装难度;钎焊于样品室顶盖底面的无氧铜垫圈与样品室底座顶面的法兰刀口外侧采用接触挤压密封方式,实现了铜垫圈的多次使用及样品室的高真空度;同时样品室主体及连接法兰采用钛制成,密度小,比强度高,在冷热交替的环境下有良好的适应性,满足了深空探测表面环境和装置轻量化的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 探测 激光 样品 | ||
【主权项】:
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