[实用新型]辐射检查系统有效
| 申请号： | 201920013312.4 | 申请日： | 2019-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN209542863U | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 李荐民;张丽;李元景;陈志强;孙尚民;王云峰;李巨轩;许艳伟;喻卫丰;马媛;胡煜;宗春光 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司;同方威视科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 艾春慧 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种辐射检查系统。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检查通道 辐射检查系统 被检物 射线 辐射源 检查 发射辐射 射线照射 探测装置 透射射线 背散射 探测 | ||
【主权项】：
1.一种辐射检查系统，其特征在于，包括：多个辐射检查通道(2)，用于通过被检物(4)；辐射源(1)，设于所述多个辐射检查通道(2)围成的区域内，用于向所述多个辐射检查通道(2)发射辐射检查射线以对通过所述多个辐射检查通道(2)内的被检物(4)进行辐射检查；探测装置(3)，用于探测所述多个辐射检查通道(2)内被所述辐射检查射线照射的所述被检物(4)的透射射线和/或背散射射线。
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