[实用新型]一种用于改善PECVD晶片成膜均匀性的新型喷头有效
申请号: | 201920026206.X | 申请日: | 2019-01-08 |
公开(公告)号: | CN209397259U | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 张彬彬;庞井成 | 申请(专利权)人: | 天津维普泰克科技发展有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/513 |
代理公司: | 北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙) 11684 | 代理人: | 汪发成 |
地址: | 300000 天津市滨海新*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于改善PECVD晶片成膜均匀性的新型喷头,包括喷头本体,所述喷头本体包括喷头主体、喷头面板和分流板,所述喷头主体的底端设有喷头面板,所述喷头面板的上方设有分流板,且所述分流板设于喷头主体的内部;所述喷头面板上开设有若干个气流孔,所述气流孔为圆形,且所述气流孔的孔径和孔距大小不一。本实用新型通过在喷头面板上开设有若干个气流孔,气流孔为圆形,且气流孔的孔径和孔距大小不一,气流孔的孔径由喷头面板的中心向边缘处逐渐加大或减小,避免了不适当的气流模式所造成晶片薄膜上的膜层厚度不均匀,即中凹或中凸现象,可以实现在较大尺寸的均匀晶片表面得到均匀厚度的薄膜。 | ||
搜索关键词: | 气流孔 喷头面板 喷头主体 分流板 本实用新型 成膜均匀性 大小不一 喷头本体 新型喷头 晶片 孔距 厚度不均 晶片薄膜 晶片表面 气流模式 边缘处 底端 减小 膜层 中凹 中凸 薄膜 | ||
【主权项】:
1.一种用于改善PECVD晶片成膜均匀性的新型喷头,包括喷头本体,所述喷头本体包括喷头主体、喷头面板和分流板,所述喷头主体的底端设有喷头面板,所述喷头面板的上方设有分流板,且所述分流板设于喷头主体的内部;其特征在于,所述喷头面板上开设有若干个气流孔,所述气流孔为圆形,且所述气流孔的孔径和孔距大小不一。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的