[实用新型]用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统有效
| 申请号： | 201920034222.3 | 申请日： | 2019-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN209673898U | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 孙景芳;赵颖涛;王雅宁;李然 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学(保定) |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 11301 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张玮玮<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 071003 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统，互补开口谐振环简称CSRR，全称为Complementary Split Ring Resonators，所述微带谐振传感器包括介质基片、导体信号线、金属接地板以及互补开口谐振环，其中，导体信号线印刷在介质基片正上方，金属接地板一体成型设置于介质基片的正下方，互补开口谐振环蚀刻在金属接地板中。本实用新型是测量介电常数的CSRR微带谐振传感器，基于CSRR实现介电常数的测量，具有体积小、重量轻、成本低、精度高、无损测量、便于样本制备等优点，基本克服了传统微波测量技术存在的弊端。 | ||
| 搜索关键词： | 互补开口谐振环 金属接地板 谐振传感器 介质基片 微带 测量介电常数 本实用新型 导体信号 测量 蚀刻 一体成型设置 测量系统 传统微波 介电常数 无损测量 样本制备 体积小 重量轻 印刷 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：包括介质基片、导体信号线、金属接地板以及互补开口谐振环，其中，导体信号线印刷在介质基片正上方，金属接地板一体成型设置于介质基片的正下方，互补开口谐振环蚀刻在金属接地板中。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华北电力大学(保定)，未经华北电力大学(保定)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201920034222.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种便携高分辨率电容测量仪
- 下一篇：用于自组织锗硅纳米线的测量装置
