[实用新型]存储器芯片的动态老化测试装置有效
| 申请号： | 201920046768.0 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN209486213U | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 宋晓力;庞戈;罗鑫锋;郭莉 | 申请（专利权）人： | 西安君信电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市国家民*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及存储器芯片的动态老化测试装置，包括柜体、显示结构、温控器以及若干个加热盒，柜体内设有若干个供加热盒插设在内的插槽，温控器设于柜体上，且插槽内设有老化板，加热盒与插槽内的老化板连接，加热盒与温控器连接，显示结构与老化板连接，加热盒包括夹持功率器件的夹具以及加热片，加热片与温控器连接，加热片与夹具连接。本实用新型通过设置单独的加热盒对夹具以及功率器件进行加热，避免控制器的故障，降低更换成本，功率器件与老化板的连接方面采用夹具内的工位设置的探针，配合与探针连接的金手指，该金手指与老化板连接，从而实现对功率器件的老化测试，柜体上设置多个插槽，可同时进行多个存储器芯片的老化测试，提高产能。 | ||
| 搜索关键词： | 加热盒 老化板 夹具 功率器件 温控器 存储器芯片 加热片 插槽 柜体 老化测试装置 本实用新型 老化测试 显示结构 金手指 多个插槽 工位设置 探针连接 控制器 产能 夹持 探针 加热 体内 配合 | ||
【主权项】：
1.存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，包括柜体、显示结构、温控器以及若干个加热盒，所述柜体内设有若干个供加热盒插设在内的插槽，所述温控器设于所述柜体上，且所述插槽内设有老化板，所述加热盒与所述插槽内的老化板连接，所述加热盒与所述温控器连接，所述显示结构与所述老化板连接，所述加热盒包括夹持功率器件的夹具以及加热片，所述加热片与所述温控器连接，所述加热片与所述夹具连接。
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