[实用新型]一种电子束扫描测量仪的承片托盘有效
申请号: | 201920069211.9 | 申请日: | 2019-01-15 |
公开(公告)号: | CN209199904U | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 相宇阳 | 申请(专利权)人: | 无锡卓海科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/68 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 冯智文 |
地址: | 214000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种电子束扫描测量仪的承片托盘,解决了普通承片托盘由于在运送过程中的气压变化,普通承片托盘存在吸附不牢,晶片容易移位的问题,其包括承片托盘本体,所述承片托盘本体的一侧设有底面,承片托盘本体上等距开设有三个沉头螺孔,底面上开设有真空通道,真空通道的一侧设有交换手臂摆动通道,承片托盘本体的中部开设有中心挖空部,真空通道的另一侧设有圆形突起,承片托盘本体两侧设有斜面,承片托盘本体的另一侧设有端面,端面的一侧开设有第一在位凹槽,端面的另一侧开设有第二在位凹槽,本实用新型结构新颖,构思巧妙,成本低,结构简单,吸附牢固,耐用性强,同时预留有传感器通道,满足较多使用要求。 | ||
搜索关键词: | 承片 托盘本体 托盘 真空通道 电子束扫描 吸附 在位 测量 本实用新型 传感器通道 沉头螺孔 等距开设 气压变化 手臂摆动 圆形突起 耐用性 挖空部 移位 底面 晶片 预留 运送 交换 | ||
【主权项】:
1.一种电子束扫描测量仪的承片托盘,包括承片托盘本体(1),其特征在于,所述承片托盘本体(1)的一侧设有底面(2),承片托盘本体(1)上等距开设有三个沉头螺孔(3),底面(2)上开设有真空通道(4),真空通道(4)的一侧设有交换手臂摆动通道(5),承片托盘本体(1)的中部开设有中心挖空部(6),真空通道(4)的另一侧设有圆形突起(7),承片托盘本体(1)两侧设有斜面(8),承片托盘本体(1)的另一侧设有端面(9),端面(9)的一侧开设有第一在位凹槽(10),端面(9)的另一侧开设有第二在位凹槽(11),第一在位凹槽(10)的一侧开设有第三在位凹槽(12),端面(9)的中部开设有晶片凹槽(13),第二在位凹槽(11)的一侧开设有第四在位凹槽(14),晶片凹槽(13)的表面设有保护层(15),保护层(15)的一侧设有吸水层(16),吸水层(16)的一侧设有金属层(17),金属层(17)的一侧设有耐腐蚀层(18),耐腐蚀层(18)的一侧设有防静电层(19)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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