[实用新型]高性能激光测量装置有效

专利信息
申请号: 201920093976.6 申请日: 2019-01-21
公开(公告)号: CN210014754U 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 朱玉山 申请(专利权)人: 合肥仕创艾科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01D11/00
代理公司: 11692 北京开林佰兴专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 孙宁宁
地址: 240000 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种高性能激光测量装置,包括机座、升降工作台、激光测量装置和安装座,升降工作台和安装座均安装于机座顶面,安装座设有伸向升降工作台上方的安装臂,所述激光测量装置固定于安装臂;所述升降工作台包括台面板、剪式支架和驱动缸,所述台面板通过剪式支架安装于机座顶面,驱动缸连接于剪式支架的两个转臂之间,用于驱动剪式支架伸缩;本实用新型的高性能激光测量装置,测量范围更广,精度更高,能实现自动化控制,实用性强,适于工业应用。
搜索关键词: 激光测量装置 升降工作台 剪式支架 安装座 本实用新型 机座顶面 安装臂 驱动缸 台面板 自动化控制 工业应用 伸缩 机座 转臂 测量 驱动
【主权项】:
1.一种高性能激光测量装置,其特征在于:包括机座、升降工作台、激光测量装置和安装座,升降工作台和安装座均安装于机座顶面,安装座设有伸向升降工作台上方的安装臂,所述激光测量装置固定于安装臂;所述升降工作台包括台面板、剪式支架和驱动缸,所述台面板通过剪式支架安装于机座顶面,驱动缸连接于剪式支架的两个转臂之间,用于驱动剪式支架伸缩。/n
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