[实用新型]一种微波基片自动检测系统有效
| 申请号： | 201920109158.0 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN209690427U | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 刘学观;吴恒名;周鸣籁 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 32345 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 唐学青<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 215104 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提出一种微波基片自动检测系统，其特征在于，所述系统包括：图像采集模块，获取待检测基片的样本图像；图像处理模块，对所述样本图像进行预处理，获取所述样本图像的中心点位置；控制模块，将所述中心点位置转换成用于控制机械臂移动的机械臂坐标，控制机械臂将所述待检测基片置于谐振环上；数据分析模块，通过谐振环在覆盖待检测基片前后S散射矩阵的S参数的四个相位的变化计算所述待检测基片的损耗角正切和相对介电常数；判断模块，根据所述损耗角正切和相对介电常数判断所述待检测基片是否合格。该检测系统能够快速，高效，精确的实现待检测基片的自动分拣，同时能够满足产线上对基片参数质量的保障，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 样本图像 机械臂 相对介电常数 损耗角正切 中心点位置 谐振环 预处理 数据分析模块 图像采集模块 图像处理模块 自动检测系统 本实用新型 检测系统 控制模块 判断模块 散射矩阵 生产效率 微波基片 自动分拣 产线 转换 移动 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种微波基片自动检测系统，其特征在于，所述系统包括：/n图像采集模块，获取待检测基片的样本图像；/n图像处理模块，对所述样本图像进行预处理，获取所述样本图像的中心点位置；/n控制模块，将所述中心点位置转换成用于控制机械臂移动的机械臂坐标，控制机械臂将所述待检测基片置于谐振环上；/n数据分析模块，依据谐振环在覆盖待检测基片前后S散射矩阵的S参数的四个相位的变化计算所述待检测基片的损耗角正切和相对介电常数并将分析的信息传输至判断模块，所述判断模块接收并响应所述数据分析模块分析的信息，其中判断模块，根据所述损耗角正切和相对介电常数判断所述待检测基片是否合格。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学，未经苏州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201920109158.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：功能集成检测装置
- 下一篇：一种圆柱锂电池电芯短路检测装置
