[实用新型]偏光片精度精密测量盘有效
申请号: | 201920115478.7 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN209371934U | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 胡佩 | 申请(专利权)人: | 重庆工程职业技术学院 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 重庆天成卓越专利代理事务所(普通合伙) 50240 | 代理人: | 李梅 |
地址: | 402260 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种偏光片精度精密测量盘,包括固定座、上层盘和下层盘,所述上层盘的外轮廓为螺旋线,所述下层盘的外轮廓为标准圆,所述上层盘的最大外轮廓边缘与下层盘的外轮廓边缘位于同一竖直面内,在所述固定座上设置有旋转轴,所述旋转轴依次穿过下层盘和上层盘的中心,所述下层盘和上层盘均能绕旋转轴转动,在所述上层盘的上盘面边缘设置有一圈刻度,该刻度用于显示下层盘的外轮廓和上层盘的外轮廓之间的径向宽度L。结构简单,使用方便,成本低,采用圆盘式设计,避免测量时磕伤偏光片,且读数简单直接,提高测量效率。 | ||
搜索关键词: | 上层盘 下层盘 外轮廓 偏光片 旋转轴 精密测量 固定座 本实用新型 同一竖直面 外轮廓边缘 最大外轮廓 边缘设置 测量效率 螺旋线 上盘面 圆盘式 转动 测量 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种偏光片精度精密测量盘,其特征在于:包括固定座(1)、上层盘(2)和下层盘(3),所述上层盘(2)的外轮廓为螺旋线,所述下层盘(3)的外轮廓为标准圆,所述上层盘(2)的最大外轮廓边缘与下层盘(3)的外轮廓边缘位于同一竖直面内,在所述固定座(1)上设置有旋转轴(4),所述旋转轴(4)依次穿过下层盘(3)和上层盘(2)的中心,所述下层盘(3)和上层盘(2)均能绕旋转轴(4)转动,在所述上层盘(2)的上盘面边缘设置有一圈刻度(5),该刻度(5)用于显示下层盘(3)的外轮廓和上层盘(2)的外轮廓之间的径向宽度L。
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