[实用新型]一种低氧化应力的VCSEL芯片有效
申请号: | 201920262354.1 | 申请日: | 2019-03-01 |
公开(公告)号: | CN209329394U | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 贾钊;赵炆兼;郭冠军;曹广亮;赵丽 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/343 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361001 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本实用新型提供一种低氧化应力的VCSEL芯片,芯片包括依次层叠设置的衬底、第一DBR层、有源层、氧化限制层、第二DBR层、欧姆接触层和电极,所述氧化限制层包括依次层叠设置的Al0.9Ga0.1As外延层、AlXGa1‑XAs外延层和Al0.98Ga0.02As外延层,所述Al0.9Ga0.1As外延层靠近所述有源层设置,所述Al0.98Ga0.02As外延层靠近所述第二DBR层设置,其中X为Al元素的组分,X大于等于0且小于0.9。本实用新型采用多层的氧化限制层结构,氧化应力得到平衡,从而降低了氧化应力,进而降低了外延由于应力导致的脱落风险。 | ||
搜索关键词: | 外延层 氧化限制层 本实用新型 依次层叠 低氧化 源层 欧姆接触层 电极 衬底 多层 芯片 平衡 | ||
【主权项】:
1.一种低氧化应力的VCSEL芯片,包括依次层叠设置的衬底、第一DBR层、有源层、氧化限制层、第二DBR层、欧姆接触层和电极,其特征在于,所述氧化限制层包括依次层叠设置的Al0.9Ga0.1As外延层、AlXGa1‑XAs外延层和Al0.98Ga0.02As外延层,所述Al0.9Ga0.1As外延层靠近所述有源层设置,所述Al0.98Ga0.02As外延层靠近所述第二DBR层设置,其中X为Al元素的组分, X大于等于0且小于0.9。
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