[实用新型]一体式测试探针及测试设备有效

专利信息
申请号: 201920271768.0 申请日: 2019-03-05
公开(公告)号: CN210051800U 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 费保兴;刘达;杨亚坤;周嘉伟;黄绍伟 申请(专利权)人: 太仓比泰科自动化设备有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种一体式测试探针及测试设备,包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部;所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接;所述上接触部包括至少一个接触凸起,所述下接触部包括至少一个针头,所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸,所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同;所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同,且为一体成形。本实用新型的一体式测试探针及测试设备,能承载测试中需要的大电流。
搜索关键词: 上接触部 下接触部 测试探针 接触凸起 针头 本实用新型 测试设备 长度方向顺序 长度方向延伸 连接测试 一体成形 大电流 承载 测试 延伸
【主权项】:
1.一种一体式测试探针,其特征在于,所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部;所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接;/n所述上接触部包括至少一个接触凸起,所述下接触部包括至少一个针头,所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸,所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同;/n所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同,且为一体成形。/n
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