[实用新型]一种毫米波段液晶材料测试系统有效
申请号: | 201920309580.0 | 申请日: | 2019-03-12 |
公开(公告)号: | CN209841733U | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 蒋迪;陈健;李潇雨 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;陈健 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 51238 成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 胡琳梅 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种毫米波段液晶材料测试系统,解决的是毫米波段液晶材料测试无法测试响应时间的技术问题,通过采用基于液晶材料的电感耦合方形谐振环整体结构,通过同轴馈电接口构成电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口与输出端口;所述电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口连接有T型偏置器的RF&DC端口,T型偏置器的DC端口连接有电源,T型偏置器的RF端口连接有矢量网络分析仪;所述电源还依次连接有函数发生器、数字示波器,数字示波器的另一接口依次通过RF检波器、高通滤波器后连接到电感耦合方形谐振环整体结构的输出端口的技术方案,较好的解决了该问题,可用于毫米波段液晶材料测试中。 | ||
搜索关键词: | 电感耦合 液晶材料 谐振环 毫米波段 偏置器 数字示波器 输出端口 电源 矢量网络分析仪 输入端口连接 同轴馈电接口 本实用新型 高通滤波器 函数发生器 测试 测试系统 测试响应 输入端口 依次连接 检波器 可用 | ||
【主权项】:
1.一种毫米波段液晶材料测试系统,其特征在于:所述毫米波段液晶材料测试系统用于测试液晶材料的响应时间,毫米波段液晶材料测试系统包括基于液晶材料的电感耦合方形谐振环整体结构,所述电感耦合方形谐振环整体结构通过同轴馈电接口构成电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口与输出端口;/n所述电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口连接有T型偏置器的RF&DC端口,T型偏置器的DC端口连接有电源,T型偏置器的RF端口连接有矢量网络分析仪;所述电源还依次连接有函数发生器、数字示波器,数字示波器的另一接口依次通过RF检波器、高通滤波器后连接到电感耦合方形谐振环整体结构的输出端口。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;陈健,未经电子科技大学;陈健许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201920309580.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:透明材质的缺陷检测装置
- 下一篇:一种工业电路板故障检测装置