[实用新型]环形缩距天线测试装置有效
| 申请号： | 201920329807.8 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN209764952U | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 张道治 | 申请（专利权）人： | 张道治 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 11355 北京泰吉知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张雅军;孙金瑞 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;TW |
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| 摘要： | 一种环形缩距天线测试装置，包含一组环形主反射面，单组或多组辅反射面，及单组或多组讯号馈入器。主反射面为一环形反射面，其凹陷朝向环形中心轴线上。辅反射面几何形状依费马原理之波特性原理求得。如要产生多组分别由不同方向朝向环形中心轴线之平面波，可利用环形反射面上朝向环形中心轴线之不同区块，及其相对应不同讯号馈入器之位置，则其相对应之多组辅反射面几何形状可算出。本实用新型可在天线测试静区产生多组不同方向之入射平面波，同时供单组或多组天线在不同方向的天线辐射场型量测，且可快速量测二维及三维天线辐射场型。 | ||
| 搜索关键词： | 环形中心 反射面 单组 主反射面 馈入器 平面波 天线测试装置 本实用新型 环形反射面 天线辐射场 多组天线 辐射场型 快速量测 三维天线 天线测试 波特性 凹陷 二维 静区 量测 区块 入射 反射 | ||
【主权项】：
1.一种环形缩距天线测试装置，其特征在于，包含：/n一环形的主反射面；/n至少一讯号馈入器，与所述环形的主反射面间隔设置；及/n至少一辅反射面，其表面几何形状由所述主反射面的表面公式及所述讯号馈入器的位置共同定义，/n三者相互配合用于产生多个不同方向入射之平面波于一测试静区，供多个天线接收或发射之场型量测之用。/n
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