[实用新型]用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构有效

专利信息
申请号: 201920404555.0 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN209822635U 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 王晓丽;于凯 申请(专利权)人: 西安中车永电电气有限公司
主分类号: H01L23/58 分类号: H01L23/58;H01L23/31;H01L29/739
代理公司: 61245 西安新动力知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 刘强
地址: 710018 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型属于IGBT模块封装制造技术领域,涉及用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构,包括:结构本体、设置于所述结构本体上的子单元放置区,所述结构本体的侧边设置有可移动的定位装置;通过增加可移动的定位装置的设计,在子单元焊接完成后,当拿取子单元时若出现子单元与结构本体卡紧现象,可以将定位装置外移,从而增大子单元与结构本体的间隙,进而有效地避免子单元出现破损的现象,大大提高IGBT模块的封装合格率,降低IGBT模块的封装成本。
搜索关键词: 子单元 结构本体 定位装置 封装 可移动 焊接 破损 本实用新型 放置区 有效地 侧边 卡紧 拿取 合格率 制造
【主权项】:
1.用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构,其特征在于,包括:结构本体(1)、设置于所述结构本体(1)上的子单元放置区(2),所述结构本体(1)的侧边(5)设置有可移动的定位装置。/n
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