[实用新型]低触发可调控维持电压双向静电释放器件有效

专利信息
申请号: 201920429165.9 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN209461460U 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 汪洋;李婕妤;骆生辉;金湘亮;董鹏 申请(专利权)人: 湖南静芯微电子技术有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙) 43108 代理人: 颜昌伟
地址: 410199 湖南省长沙市经济*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种低触发可调控维持电压双向静电释放器件,包括P型衬底;P型衬底上设有第一、第二N阱;第一N阱中设有第一N+注入区、第一P+注入区,第二N阱中设有第四P+注入区、第四N+注入区,第二P+注入区横跨第一N阱和P型衬底,第三P+注入区横跨P型衬底和第二N阱;第二P+注入区与第三P+注入区之间设有第二、第三N+注入区;第一多晶硅栅位于第一、第二P+注入区之间;第二多晶硅栅位于第二、第三N+注入区之间;第三多晶硅栅位于第三、第四P+注入区之间。本实用新型在传统双向SCR中间嵌入NMOS管,通过给GATE不同的栅压调控器件的维持电压,可降低维持电压来箝住ESD脉冲。
搜索关键词: 注入区 维持电压 衬底 多晶硅栅 静电释放器件 本实用新型 可调控 触发 横跨 调控器件 嵌入 栅压
【主权项】:
1.一种低触发可调控维持电压双向静电释放器件,其特征在于:包括P型衬底、第一多晶硅栅、第二多晶硅栅、第三多晶硅栅、第一至第四P+注入区、第一至第四N+注入区;所述P型衬底从左至右设有第一N阱、第二N阱;所述第一N阱中从左至右设有第一N+注入区、第一P+注入区,第一N+注入区左侧设有第一场氧隔离区;所述第二N阱中从左至右设有第四P+注入区、第四N+注入区,第四N+注入区右侧设有第二场氧隔离区;所述第二P+注入区横跨在第一N阱和P型衬底的交界处;所述第三P+注入区横跨在P型衬底和第二N阱的交界处;所述P型衬底上位于第二P+注入区与第三P+注入区之间的位置处从左至右设有第二N+注入区、第三N+注入区;所述第一多晶硅栅位于第一N阱之上,第一P+注入区和第二P+注入区之间;所述第二多晶硅栅位于P型衬底之上,第二N+注入区和第三N+注入区之间;所述第三多晶硅栅位于第二N阱之上,第三P+注入区和第四P+注入区之间。
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