[实用新型]一种插针高度检测装置有效

专利信息
申请号: 201920439746.0 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN209524879U 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 吴亚月;邓联文 申请(专利权)人: 苏州铭青自动化设备有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/22;G01V8/12
代理公司: 南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙) 32326 代理人: 缪友建
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种插针高度检测装置,包括测试基准块、测试针、探针头和激光测微仪,测试基准块具有插针采集端和测试检测端,插针采集端和测试检测端之间设有供所述测试针穿过的通孔,在每个通孔内穿插有测试针;测试针位于测试基准块插针采集端的尖端对准待测产品的插针位置,测试针位于测试基准块测试检测端的尖端连接所述探针头;激光测微仪设置于测试基准块的侧边,测试基准块和测试针上均设有侧让位孔,并通过激光测微仪采集的发出的光线是否穿过侧让位孔判断插针高度。该装置可以实时监测插针状态,筛选出不良品,检测灵敏度高。
搜索关键词: 插针 测试基准 测试针 激光测微仪 高度检测装置 采集端 检测端 让位孔 探针头 测试 通孔 采集 穿过 本实用新型 检测灵敏度 插针位置 待测产品 实时监测 不良品 侧边 穿插 对准 筛选 检测
【主权项】:
1.一种插针高度检测装置,其特征在于:包括测试基准块、测试针、探针头和激光测微仪,所述测试基准块具有插针采集端和测试检测端,所述插针采集端和测试检测端之间设有供所述测试针穿过的通孔,在每个通孔内穿插有所述测试针;所述测试针位于所述测试基准块插针采集端的尖端对准待测产品的插针位置,所述测试针位于测试基准块测试检测端的尖端连接所述探针头;所述激光测微仪设置于所述测试基准块的侧边,所述测试基准块和测试针上均设有侧让位孔,并通过所述激光测微仪采集的发出的光线是否穿过所述侧让位孔判断插针高度。
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