[实用新型]一种用于二极管的测试结构有效
| 申请号： | 201920584121.3 | 申请日： | 2019-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN210119510U | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 王燕 | 申请（专利权）人： | 东莞市中之电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 | 代理人： | 何新华 |
| 地址： | 523430 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型系提供一种用于二极管的测试结构，包括支架，支架上固定有z轴导轨，z轴导轨上滑动连接有z轴滑块；z轴滑块的一侧固定有上支板，上支板中设有导孔，支架的一侧固定有下支板，上支板位于下支板的正上方，下支板上固定有导柱，导柱外套设有弹簧，弹簧位于上支板和下支板之间，导柱穿过导孔设置；上支板和z轴滑块的顶部固定有测试平台，测试平台上固定有两测试片，测试平台中还设有连通的吹气孔和导气通道，吹气孔位于两块测试片之间。本实用新型在测试过程中能够有效缓冲二极管所受的压力，从而避免二极管因剧烈碰撞挤压而损坏，在测试完成后，通过吹气孔向二极管底部吹气，能够有效简化二极管的取出操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 二极管 测试 结构 | ||
【主权项】：
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