[实用新型]一种激光二极管测试设备有效
| 申请号： | 201920641196.0 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN209878273U | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 王胜利;杨波 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种激光二极管测试设备。所述激光二极管测试设备包括，机架；上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。 | ||
| 搜索关键词： | 激光二极管 测试 芯粒 上料 传输 测试设备 收料部 本实用新型 | ||
【主权项】：
1.一种激光二极管测试设备，其特征在于：所述激光二极管测试设备（100）包括，/n机架（20）；/n上料部（30），安装于机架（20）；所述上料部（30）用于放置待测激光二极管芯粒；/n传料部（40），安装于机架（20）；所述传料部（40）用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；/n第一测试部（50），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从上料部（30）传输到所述第一测试部（50），所述第一测试部（50）对激光二极管芯粒进行测试；/n第二测试部（60），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从第一测试部（50）传输到第二测试部（60），所述第二测试部（60）对激光二极管芯粒进行测试；/n收料部（70），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将第二测试部（60）上的激光二极管芯粒传输到收料部（70）。/n
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