[实用新型]一种超高频无源芯片性能测试系统及其损耗测量装置有效
| 申请号： | 201920734171.5 | 申请日： | 2019-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN210347850U | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 菅端端;任翔;赵鑫;陈大为 | 申请（专利权）人： | 中国电子技术标准化研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人： | 刘畅 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种超高频无源芯片性能测试系统及其损耗测试装置，包括：主控制器、基带处理器、上变频器、下变频器、可变增益放大器、环形器和自动网络匹配电路，主控制器连接基带处理器向其发出控制信号；基带处理器的输出端连接上变频器的输入端向其发送基带信号；上变频器的输出端连接可变增益放大器的输入端；可变增益放大器的输出端连接环形器的信号输入端，环形器同衰减器双向连接，衰减器同自动网络匹配电路双向连接，自动网络匹配电路通过输出Vout接口连接待测芯片。本实用新型用简单的标准设备就可以完成对超高频无源芯片性能的测量，连接都使用同轴电缆，避免了搭建暗室的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超高频 无源 芯片 性能 测试 系统 及其 损耗 测量 装置 | ||
【主权项】：
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