[实用新型]一种电子产品老化检测用自动测试机有效
申请号: | 201920936174.7 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN210572526U | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 贝明 | 申请(专利权)人: | 贝明 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 523000 广东省东莞市石*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电子产品老化检测用自动测试机,包括机架,所述机架连通有低温管道,所述低温管道的下端贯穿密封罩,所述密封罩内设置有测试机构,所述测试机构的一侧设置有不合格产品回收机构,所述测试机构的后侧设置有CCD耦合机构,所述密封罩的左侧设置有上料机构,所述密封罩的右侧设置有下料机构,所述上料机构和下料机构结构相同,所述机架的内部上端安装有电源,所述电源电性连接有光谱仪,所述光谱仪安装在机架的内部顶端,所述电源电性连接有电脑控制屏,所述电脑控制屏安装在机架的一侧外端。通过上述结构实现对电子产品老化测试的自动上料,检测下料,并对不合格产品自动取出并进行收集,自动化程度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子产品 老化 检测 自动 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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