[实用新型]一种用于教学的光学综合测量平台有效
| 申请号： | 201920985701.3 | 申请日： | 2019-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN210803332U | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 熊永红;丁浩;朱鸿亮;陶薇 | 申请（专利权）人： | 武汉市精诺鸿科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G09B23/22 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 王福新 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖新技术开*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于教学的光学综合测量平台，包括底座与内盘结构、光源结构以及显像结构；所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，所述载物台机构包括可拆卸载物台(8)；所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)；所述显像结构包括可拆卸式探头或像屏(4)和第二转臂(5)。本实用新型的平台，其采用可拆卸式激光器来模拟“X光”，光源结构发射可见光，穿过安放在底座与内盘结构上的待测样品，最后将可见光投射到显像结构，通过分析显像结构上的图像形状，从而分析出待测样品的内部结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 教学 光学 综合 测量 平台 | ||
【主权项】：
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