[实用新型]一种用于晶圆多点测试的探针卡有效

专利信息
申请号: 201921018563.8 申请日: 2019-07-02
公开(公告)号: CN210604727U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 刘家铭;张孝仁;苏华庭 申请(专利权)人: 元鼎丰投资有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 成都明涛智创专利代理有限公司 51289 代理人: 杜梦
地址: 中国香港租庇*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 实用新型公开了一种用于晶圆多点测试的探针卡,涉及探针卡领域,包括PCB板,PCB板的前侧面中部固定连接有探针基座,探针基座的前侧面固定连接有多个探针,探针包括探针筒和探针柱,探针柱设置于探针筒的顶端,探针柱的顶端设置为半圆形,探针柱的底端插入探针筒,探针柱的底端固定连接有挡盘,挡盘的直径大于探针筒筒口的内径,挡盘的下表面设有探针弹簧。本实用新型通过探针筒、探针柱、挡盘、滑槽以及探针弹簧的配合使用,能够对测试时产生的压力进行缓冲,避免过大的压力对探针柱造成损坏,同时能够保证探针柱与芯片接触,通过将探针柱的顶端设置为半圆形,能够延长探针柱的使用寿命,结构简单实用。
搜索关键词: 一种 用于 多点 测试 探针
【主权项】:
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