[实用新型]基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置有效
| 申请号： | 201921020838.1 | 申请日： | 2019-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN209980231U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 韦文勇;齐斌斌;何海生;何柏根 | 申请（专利权）人： | 深圳市创元微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/61 | 分类号： | G06F8/61;G06F11/273;G09G3/00 |
| 代理公司： | 44384 深圳市中科创为专利代理有限公司 | 代理人： | 谭雪婷;谢亮 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型公开一种基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU电连接的存储单元、FPGA，分别与所述FPGA电连接的SSD2828桥接芯片或SSD2829桥接芯片、三个SD‑RAM存储，与所述SSD2828桥接芯片电连接的MIPI接口，与所述主控MCU连接的SPI接口；所述MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC电连接。本实用新型可以直接通过MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC电连接，使得主控MCU可通过MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组交互数据，继而实现对显示和触摸的测试；无需使用TDDI驱动IC原厂测试板，提升测试效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电连接 主控MCU 模组 桥接芯片 驱动IC 本实用新型 测试效率 测试装置 存储单元 交互数据 测试板 烧录 原厂 触摸 测试 | ||
【主权项】：
1.一种基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置，其特征在于，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU电连接的存储单元、FPGA，分别与所述FPGA电连接的SSD2828桥接芯片或SSD2829桥接芯片、三个SD-RAM存储，与所述SSD2828桥接芯片电连接的MIPI接口，与所述主控MCU连接的SPI接口；所述MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC电连接；所述MIPI接口用于传输显示数据给NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC，所述SPI接口用于传输固件数据以及触摸坐标数据给NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市创元微电子科技有限公司，未经深圳市创元微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921020838.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种芯片烧录器用辅助压杆
- 下一篇：一种芯片固件烧录装置
