[实用新型]一种超长寿命芯片测试金手指

摘要

本实用新型提供一种超长寿命芯片测试金手指，包括有测试机及固定设置于测试机上的金手指，金手指设有多个并列排布的测试弹片，测试弹片电接触芯片，并测试机的测试电路，测试弹片设有接触点、过渡切线力臂和圆弧弯脚；采用测试弹片与芯片接触点和与测试机的连接的圆弧弯处，由过渡切线力臂连接构成杠杆，采用杠杆原理省力，并且由于过渡切线力臂的倾斜角度低于10°范围平缓角度，力臂较长，减小了测试弹片的变形量，提高了测试金手指的使用寿命，同时提高了生产效率和降低了人工劳动强度，测试芯片效果大大得到提升。