[实用新型]一种QFN芯片的自动测试印字收料设备有效

专利信息
申请号: 201921073663.0 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN210272269U 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 艾兵 申请(专利权)人: 上海赢朔电子科技股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 北京律远专利代理事务所(普通合伙) 11574 代理人: 丁清鹏
地址: 201712 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种QFN芯片的自动测试印字收料设备,包括设备柜,所述设备柜顶端设置有转盘站,且设备柜顶端依次设置有沿转盘站外圆周分布的振动盘入料站、转向站、测试站、镭射站、不良品排出站、封装卷盘式收料机构和tray盘式收料机构,所述设备柜顶端靠近转盘站与镭射站之间位置处设有镭射打标转盘,所述设备柜顶端靠近转向站和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构,所述设备柜顶端靠近测试站和镭射站之间位置处设有第一打标检测机构。本实用新型自动化程度高,节省人力,提高工作效率,操作简便,减少操作工序,提高了生产效率,出料方式多样,满足不同生产需要。
搜索关键词: 一种 qfn 芯片 自动 测试 印字收料 设备
【主权项】:
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