[实用新型]一种超微量元素分析仪用可调节底座有效

专利信息
申请号: 201921081574.0 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN210534167U 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 沈恒文;林旭斌;金修领;吉双平;郝小峰;刘彤辉 申请(专利权)人: 江苏艾匹克半导体设备有限公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 黄冠华
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种超微量元素分析仪用可调节底座,包括底座,所述底座的顶部设置有支撑板,所述支撑板的顶部固定连接有分析仪本体。本实用新型通过设置底座、支撑板、分析仪本体、动力槽、电机、螺杆、螺套、第一传动杆、第一连接块、第二传动杆、第二连接块、传动板和调节柱的配合使用,解决了现有的超微量元素分析仪在使用时不能对超微量元素分析仪进行高度的调节,导致使用者不能将超微量元素分析仪调节至适合使用者操作的高度,从而造成使用者操作超微量元素分析仪的舒适度降低的问题,该超微量元素分析仪用可调节底座,具备可调节高度的优点,便于使用者的使用,提高了超微量元素分析仪的实用性。
搜索关键词: 一种 微量元素 分析 仪用可 调节 底座
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