[实用新型]一种用于微针测试设备的下模机构及测试设备有效
| 申请号： | 201921090909.5 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN210401486U | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 黄庆云 | 申请（专利权）人： | 深圳市振云精密测试设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 | 代理人： | 陈丽燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型属于微针测试技术领域，涉及一种用于微针测试设备的下模机构及测试设备。所述用于微针测试设备的下模机构，包括第一转接针组件、第二转接针组件和载板，所述第二转接针组件设于第一转接针组件和载板之间，所述第一转接针组件和第二转接针组件连接；所述第一转接针组件包括第一转接板和针板，所述针板上设有第一探针，所述第一探针与第一转接板连接；所述第二转接针组件包括第二转接板；所述第二转接板上设有第二探针，所述第二探针的一端穿过载板并外露于载板远离第二转接板的一侧。本实用新型通过设置两组探针，可以有效避免检测信号损耗，提高检测质量及效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 设备 机构 | ||
【主权项】：
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