[实用新型]一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置有效

专利信息
申请号: 201921111269.1 申请日: 2019-07-16
公开(公告)号: CN210571295U 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 吴重庆 申请(专利权)人: 南京恒高光电研究院有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J9/02
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 吴东勤
地址: 210000 江苏省南京市栖霞区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及全光信号处理技术领域,尤其是一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置,包括光源部分和光纤斐索干涉仪两部分,光源部分包括第一激光器和第二激光器;第一激光器发出的信号光依次经过第一偏振控制器和第一波分复用器进入被测的半导体光放大器SOA;第二激光器发出的控制光经过调制器后依次经过第二偏振控制器和第一波分复用器同时进入被测的半导体光放大器SOA;从半导体光放大器SOA输出的光进入第二波分复用器;后进入光纤斐索干涉仪,根据干涉结果计算被测SOA的线宽增强因子。本实用新型结构简单,对外界不敏感,测量精度高,另外,在测量非线性相移和线宽增强因子时对信号光、控制光功率和偏置电流不做限制,适用范围较广。
搜索关键词: 一种 测量 半导体 放大器 soa 增强 因子 装置
【主权项】:
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