[实用新型]一种芯片生产点样机

摘要

本实用新型涉及一种芯片生产点样机，包括底座、基台、点样台、点样密封箱、围墙式开关站台，所述底座设有四个，分别固定在基台的底面四角，所述点样台固定在基台的顶面，所述点样密封箱固定在点样台的顶面，所述围墙式开关站台固定在基台的顶面，所述围墙式开关站台设在点样密封箱的左侧面和后侧面。本实用新型利既优化芯片生产所使用的点样机的设置，改变传统的与外界接通环境进行芯片点样的设置，改进为密封的点样机箱，可以增大芯片点样的效率，而且可以使得良品率大大提高，避免了空气中的尘埃会对芯片进行污染，很大程度的提升了芯片点样机的应用性，为以后的芯片点样造就了一定的良品保障，设备所采用的抗压玻璃，可以保障密封玻璃的使用性能，宜推广使用。