[实用新型]一种反射面位于静区上方的紧缩场天线测量系统有效
| 申请号： | 201921140382.2 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN210347782U | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 李德军;陈海波;王昕旸 | 申请（专利权）人： | 北京中测国宇科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种反射面位于静区上方的紧缩场天线测量系统，包括底座、骨架、可调背架、反射面、馈源、馈源转台、被测天线和天线支架，反射面位于紧缩场静区的正上方，所述反射面通过可调背架固定在骨架上，馈源和馈源转台安装在骨架的横梁上，被测天线水平放置并通过天线支架固定在底座上。该系统结构紧凑，占地面积小，被测天线能够水平放置，安装时无需变换被测天线的姿态，减少了被测天线的安装时间和复杂度，易于实现被测天线的自动化流水线测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 位于 上方 紧缩 天线 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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