[实用新型]一种新型IC测试座有效
申请号: | 201921160113.2 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN210690745U | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 范荣定;夏昊天;葛海波 | 申请(专利权)人: | 江苏长晶科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
代理公司: | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人: | 仇波 |
地址: | 210000 江苏省南京市江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提出了一种新型IC测试座,包括底座和上盖,所述底座和上盖通过铰链活动连接,所述底座内部设置有多个探针,位于所述探针外侧的底座上设置有IC定位框,所述IC定位框底端两侧对称形成有限位块,所述底座上端与所述限位块相对应的位置开设有限位槽,所述限位块与所述限位槽滑动连接,所述上盖底端设置有与所述IC定位框中心空腔相匹配的压板。本实用新型具有通用性强,实用性好的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 ic 测试 | ||
【主权项】:
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