[实用新型]一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置有效
| 申请号： | 201921175413.8 | 申请日： | 2019-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN210450221U | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 刘召满 | 申请（专利权）人： | 成都汉芯国科集成技术有限公司 |
| 主分类号： | B08B15/00 | 分类号： | B08B15/00;B01D46/30;B01D46/42;B01D46/48;F16F15/04 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 赵宇 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置，属于推拉力测试仪技术领域，解决了芯片推拉力测试仪在工作时会因灰尘颗粒的影响而导致测试精度不足、测试数据不准确的问题，本实用新型包括底座，所述底座上方安装有工作平台，所述工作平台上连接有支撑台，所述支撑台连接有测试头，所述底座的表面和底座与工作台之间的连接处均开设有多个通风栅口，底座内安装有清洁装置，所述清洁装置包括吸尘盘和抽风机，吸尘盘与抽风机连通，所述抽风机的进风口安装有滤尘网，抽风机的出风口与底座外连通。本实用新型有效提高了推拉力测试仪测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 拉力 测试仪 清洁 装置 | ||
【主权项】：
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