[实用新型]一种半导体开短路测试设备有效
| 申请号： | 201921246022.0 | 申请日： | 2019-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN210427642U | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 罗佳文 | 申请（专利权）人： | 苏州领速电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙) 32312 | 代理人： | 周雅卿 |
| 地址： | 215400 江苏省苏州市太*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备，包括检测设备主体、蓄电池、可动检测爪、导电片、固定检测爪、干电池、电流表和电压表，所述检测设备主体的内部一侧开设有蓄电池安装槽，所述蓄电池安装槽的内部安装有蓄电池，所述检测设备主体的内部中间位置开设有设备安装槽，所述电流表和电压表均通过螺丝固定安装在设备安装槽的内部，所述检测设备主体的内部另一侧开设有干电池安装槽，所述干电池安装槽的内部安装有干电池，所述检测设备主体的内部上部开设有可动检测爪滑槽，所述可动检测爪滑槽的内部固定安装有导电片，本实用新型体积较小，方便操作，适合随身携带进行户外检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 短路 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州领速电子科技有限公司，未经苏州领速电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921246022.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种半导体芯片测试参数的验证系统
- 下一篇：一种半导体测试板
