[实用新型]记忆体晶片超频测试装置有效
| 申请号： | 201921253975.X | 申请日： | 2019-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN210253175U | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 洪康宁 | 申请（专利权）人： | 全何科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人： | 刘俊 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型为一种记忆体晶片超频测试装置，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含第一测试盘、第二测试盘、第三测试盘、第四测试盘、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接所述测试盘、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对记忆体做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的记忆体，将在测试机台进行完整的记忆体晶片测试。提高效率、准确度及减少误判。 | ||
| 搜索关键词： | 记忆体 晶片 超频 测试 装置 | ||
【主权项】：
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